SEMICONDUCTOR EQUIPMENT
半导体设备读码方案
在精密设备与有限空间内,建立稳定识读节点。
适用于载具、治具、零部件与设备工位追溯,重点解决小尺寸、高密度、低对比度标识,以及反光、空间受限和设备通讯问题。
现场难点
- 小尺寸或低对比度DPM标识
- 金属表面反光与局部阴影
- 安装空间、工作距离及设备通讯受限
实施方式
- 01获取真实样码并确认码制与尺寸
- 02验证光源、视野、距离和安装角度
- 03完成工业网络或串行通讯联调

电话咨询 157 9623 3499
IMPLEMENTATION PROCESS
准备样码、安装空间、产线节拍和接口信息,可更快完成测试、选型与通讯确认。
明确样码、空间、节拍与接口
核对码制、尺寸与表面状态
确认视野、工作距离与照明
缩小手持与固定式产品范围
对接 PLC、MES、WMS 与网络
结合真实工况完成最终确认
SEMICONDUCTOR EQUIPMENT
适用于载具、治具、零部件与设备工位追溯,重点解决小尺寸、高密度、低对比度标识,以及反光、空间受限和设备通讯问题。

02BATTERY MANUFACTURING
适用于电芯、模组及相关部件的过站读取、设备内识读、人工补扫与数据绑定,并根据运动状态、表面反光、视野和系统接口完成选型。

03HAZARDOUS AREA
适用于油气、炼化及受控危险区域的手持条码识读。选型前请提供气体或粉尘环境、区域分区、关联设备、线缆路径和作业流程。

PROJECT INPUTS
资料暂不完整也可以先沟通,我们会帮助梳理仍需确认的项目条件。
样码照片、码制、尺寸及材质
工作距离、可用空间与安装方式
节拍、运动状态和触发方式
PLC、MES、WMS、网络或串行协议
温湿度、粉尘、反光或防爆区域信息
需要协助判断产品方向?